本文件规定了采用接触电极平行板电容法测试介质基板的介电常数和介质损耗角正切的符号和缩略语、原理、环境条件、仪器设备、样品、试验步骤、计算、系统误差、注意事项和试样报告。
本文件适用于介质基板及类似介电材料的介电常数和介质损耗角正切测试方法,不适用于测量低损耗材料。
频率测试范围:f = 1MHz~1GHz ;
介电常数测试范围:’= 1.0~35.0;
损耗角正切值测试范围:tanog= 5.0× 10-3~5.0x 10-2。
相关主题作品推荐
![教育学习 | 英语方面一万八千余份 800G 超大资源合集 [独家精华资源]](epic_zesDVZQQZjwx.jpg)
![【文学艺术】科幻小说合集 科幻迷必备书单 [精华资源]](https://www.gxz1.com/wp-content/uploads/2025/04/2025040216062575.jpg)
本文件规定了采用接触电极平行板电容法测试介质基板的介电常数和介质损耗角正切的符号和缩略语、原理、环境条件、仪器设备、样品、试验步骤、计算、系统误差、注意事项和试样报告。
本文件适用于介质基板及类似介电材料的介电常数和介质损耗角正切测试方法,不适用于测量低损耗材料。
频率测试范围:f = 1MHz~1GHz ;
介电常数测试范围:’= 1.0~35.0;
损耗角正切值测试范围:tanog= 5.0× 10-3~5.0x 10-2。